弗萊貝格PIDcon測試儀
用于c-Si 太陽能電池和微型 模塊的臺式PID測試儀
Freiberg公司與德國Halle的FraunhoferCSP公司合作開發(fā)了一種可作為商業(yè)應(yīng)用的臺式太陽能電池和(單個)組件的潛在誘導(dǎo)退化控制(PIDcon)的測量解決方案。
弗萊貝格PIDcon測試儀的特點
+ 符合IEC 62804-TS 標(biāo)準(zhǔn)
+ 易于使用的臺式設(shè)備
+ 能夠測量c-Si太陽能電池和微型模塊
+無需氣候室
+ 無需層壓電池
+ 測量速度:小時至數(shù)天
+ 可測量參數(shù):分流電阻、功率損耗、電導(dǎo)率、泄漏電流、濕度、溫度
+太陽能電池可以在以后通過EL等進行研究
+ 基于IP的系統(tǒng)允許遠(yuǎn)程操作和技術(shù)支持從世界任何地方
c-Si太陽電池及微型組件的生產(chǎn)與質(zhì)量控制標(biāo)準(zhǔn)試驗條件
› 電壓: up to 1.5 kV
› 溫度: 85 °C
› 測試時間: 4 hours (typical)
› 干燥條件下，不需要水
背景
2010年*報道了晶硅太陽能組件在高壓影響下的故障。受影響的太陽能電池顯示分流電阻度降低。這種效應(yīng)被稱為電位誘導(dǎo)降解（PID）。到目前為止，PID測試主要在模塊上進行。模塊制造和氣候室測試需要大量的材料、設(shè)備和工作費用。
PIDcon是與FraunhoferCSP合作開發(fā)的，目的是結(jié)合已建立的測試程序的優(yōu)點：基于模塊的PID測試等現(xiàn)實的PID測試條件，以及較低的時間和成本支出。
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